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温度冲击试验箱系统介绍
本系列ts温度冲击试验箱可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件、半导体光电或相关行业的实验部门提供一个模拟环境,为测试数据的准确性和*性(可重复)提供*条件。
科文公司生产的温度冲击试验箱具有简单的操作性能和可靠的设备性能,便捷操作的计测装置,温度控制器,采用*的中文液晶显示画面触摸屏,可进行各种复杂的程序设定,程序设定采用对话方式,操作简单、迅速。可实现制冷机自动运转,zui大程度上实现自动化,减轻操作人员工作时间,可在任意时间自动启动、停止、工作运行,各系统工作(风机,制冷去湿,加热)由触摸屏人机界面集中控制。
整体在客户方进行装配,运输摆放方便,并在客户方进行现场调试和验收,保证在客户方的使用性能;结构一体化程度高,在客户端装配调试时间短;科学的空气流通设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生的安全隐患,保证设备的长期可靠性;每个产品都根据客户的要求订做,保证了设备的高效,节能。
温度冲击试验箱参照标准
本试验箱符合gb/t2423.1 低温试验方法、gb/t2423.2高温试验方法。gjb150.5-86温度冲击试验法 、gjb360a-96电子及电气元件试验方法。
gjb 150.3高温试验;gjb 150.4 低温试验;
gb10588-2006 高温试验箱技术条件;
gb10589-2006 低温试验箱技术条件;
gb/t10592高低温试验箱技术条件;
qc/t413-2002、gb2423.22、iso16750-4、iec60068-2-14标准中所要求的试验
技术参数
规格型号
kw-ts-50 kw-ts-80 kw-ts-100 kw-ts-150 kw-ts-250 kw-ts-480
内部尺寸 hxd(cm)
50l:36×35×/ 80l:50×40×40/100l:60×40×40/150l:60×50×50 /250l:70×60×60 /80l:80×80×75
外部尺寸hxd(cm)
50l:156×175×144 80l:170×180×144 100l:180×180×144/
150l:180×190×154 250l:190×200×164 480l202×225×215
温度范围:低温(f:-40;x:-55;s:-65)~高温 150℃
高温区: 60℃~ 200℃
低温区:-10℃~-75℃;
升温时间(蓄热区) :rt~200℃约需35min
降温时间(蓄冷区) :rt~-70℃约需85min
温度恢复时间/转换时间: ≤5min内 / ≤10sec内
温度控制精度/分布精度: ±0.5℃ / ±2.0℃
控制系统
1.设置方式:触摸,点击
2.显示方式:彩色lcd背光触摸屏中文显示
3.设定、显示分辨率:温度(0.1℃);时间(1min)
4.图形显示:完整显示设定程序曲线。
5.设置参数保存时间:充满电后,数据可保存5年。
6.程序数:1~499(zui大499个程序)。
7.程序段:每个程序1~64段;可按组连接运行。
8.能自动提示用户正确设置温度、时间参数。
9.有的维护界面,用于调试设备和维护设备具有程序运行保持功能。
10.温度校正:具有自我校正温度基准点功能。
11.具有程序运行等待功能。
12.具有程序跳段功能。
13.具有程序停止功能。
14.有断电恢复功能。
15.控制模式:恒温、斜率、程序。
16.具有运行界面锁定功能。记录功能:可记录100天内的曲线及实验数据,可以详细查询100天内每一时刻的温度湿度情况,可用usb2.0导出,在pc机上打印记录曲线和生成数据报表(相当于无纸记录仪的功能)具有开机故障自检功能。
17.计算机监控系统:控制系统通过计算机以太网或者无线网络通讯接口,可实现数据传输及监控功能。注:并提供日后软件免费升级。
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